壓差技術與X射線熒光技術相結合，可分析機器故障的根本原因

       斯派超的這種分析系統，將機器故障的根本原因分析是通過將兩步分析過程結合改進在一起實現的，其包括:壓差技術與 XRF技術。這個相對快速的系統可以篩選具有高顆粒計數的樣品，并對所得樣品過濾器進行完整的13元素XRF分析。

        改進的孔阻塞技術被稱為“壓差法顆粒計數法"或FPQ。FPQ具有約30,000個直徑為4um的孔的聚碳酸酯過濾器的注射器以恒定流速驅動3ml油液樣品。根據測量的相對于大氣壓的穿過濾膜的壓降，用于量化大于4um的每毫升高達百萬的顆粒的數量。相對于常規孔堵塞儀器，這一設備主要是通過改進濾膜設計來實現的。這種新的雙動態設計將測量范圍提高了顆粒飽和率以上(x50).

       分析完成后，過濾的油液從FPQ傳遞到XRF設備。由于存在顆粒交換現象，FPQ和XRF在校準方面密切相關。FPQ和XRF儀器使用一系列的規則和校準，以確保高達每毫升1百萬個顆粒的精確元素定量計數。這種技術與特殊過濾器相結合克服了XRF設備通常使用的油杯進行分析的問題。這種過濾器設計能夠將顆粒輸送到過濾器的小區域中，使得聚焦的X射線束可以將其能量集中在那些顆粒上。該儀器使用40kev和15kev來量化13個元素，平均檢測限為一1ppm。